Semicondutores e microeletrônica

A microscopia eletrônica de varredura (MEV), em combinação com a opção de feixes de íons focados (FIB), é uma tecnologia ideal para manter-se atualizado com a rápida evolução da indústria de semicondutores, oferecendo capacidades analíticas com altos níveis de precisão.
A indústria de semicondutores está envolvida em uma corrida implacável, onde o objetivo é alta integração, alta densidade e a miniaturização de dispositivos lógicos. Isto resultou no desenvolvimento de novas tecnologias, tais como os circuitos integrados 3D que tornam possível integrar as extensas funcionalidades em dispositivos mais rápidos, menores e com consumo de energia cada vez menores. No entanto, estes circuitos integrados mais complicados exigem ferramentas mais sofisticadas para o seu desenvolvimento e prototipagem, inspeção e análise de falhas, a fim de analisar ou alcançar as áreas de interesse.

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