Index - czech / english / deutch
Výrobky - MIRA II FE SEM

MIRA\\ High Resolution Schottky FE-SEM
In Beam Detector

Tescan představuje druhou generaci autoemisních rastrovacích elektronových mikroskopů Mira.

Hlavní přednosti mikroskopů řady MIRA II:

  • Vysoce zářivá Schottkyho katoda pro dosažení vysokého rozlišení, vysokých proudů ve stopě a rychlé získání obrazu s nízkou úrovní šumu.
  • Technologie In-Beam detekce pro získání extra vysokého rozlišení i při nízkých urychlovacích napětích.
  • Jedinečná tříčočková soustava Wide Field Optics™ s mezičočkou IML, nabízející celou řadu pracovních a zobrazovacích módů.
  • Technologie In-Flight Beam Tracing™ pro optimalizaci parametrů optické soustavy dle matematického modelu v reálném čase, využívající jádro softwaru Electron Optical Design.
  • Volitelné aktivní odpružení je plně integrované v rámu mikroskopu pro vysoce efektivní tlumení vibrací z okolního prostředí.
  • Vysoká rychlost snímání díky prvotřídním YAG-scintilačním detektorům.
  • Vhodné geometrické podmínky pro komplexní mikroanalýzu.
  • Vysoký výkon při automatické analýze velkých ploch vzorku díky přesnému, plně motorizovanému manipulátoru.
  • Sofistikovaný software pro ovládání mikroskopu a 16-bitovou akvizici, zpracování, archivaci a vyhodnocování snímků.
  • Plně automatizované nastavení mikroskopu, včetně automatického seřízení optické soustavy.
  • Dálkové ovládání mikroskopu v lokální síti s možností předservisní diagnostiky na dálku.
  • Jedinečná technologie 3D Beam umožňující stereoskopické snímání (i v živém obraze) s možností 3D rekonstrukce.

Modely MIRA II

MIRA II je k dostání ve dvou základních kategoriích:

MIRA\\ In-BeamMIRA\\ CompactSEM
Standardní konfigurace vybavená technologií In-Beam.
  • MIRA II LMH - velká komora , vysokovakuový model
  • MIRA II LMU - velká komora, model s možností snadného přepnutí do nízkovakuového módu
  • MIRA II XMH - extra velká komora, vysokovakuový model
  • MIRA II XMU - extra velká komora, model s možností snadného přepnutí do nízkovakuového módu
Úsporná sestava autoemisního mikroskopu MIRA.
  • MIRA II LMH-CS - velká komora , vysokovakuový model, úsporná sestava
  • MIRA II LMU-CS - velká komora, model s možností snadného přepnutí do nízkovakuového módu, úsporná sestava
  • MIRA II XMH-CS - extra velká komora, vysokovakuový model, úsporná sestava
  • MIRA II XMU-CS - extra velká komora, model s možností snadného přepnutí do nízkovakuového módu, úsporná sestava

© TESCAN, s.r.o.
Wide Field Optics™ and In-Flight Beam Tracing™ jsou obchodní známky frimy Tescan, s.r.o.
Díky kontinuálnímu vývoji se mohou některé aktuální parametry přístoje lišit. Výrobce si vyhrazuje právo měnit specifikace bez ohlášení.