Index - czech / english / deutch
Aktuality

Novinky     

Výstavy a akce v roce 2008

LYRA\ FIB-SEM

LYRA I FIB-SEM

(10/2007)
Tescan představil LYRA I FIB-SEM, plně integrovaný rastrovací elektronový mikroskop s fokusovaným iontovým svazkem.

více...


MIRA II FE SEM

MIRA II High-Resolution Schottky FE-SEM
(06/2007)
Tescan představil novou generaci série MIRA, autoemisních rastrovacích elektronových mikroskopů se Schottkyho katodou. Nová generace je vybavena In-Beam detekční technologií pro vysoké rozlišení.

více...


Wide Field Optics

Wide Field Optics™

02/2007

Tescan uvedl vylepšenou technologii Wide Field Optics™, jedinečný elektronově optický systém pro mikroskopy značky Tescan. Wide Field Optics přináší nový rastrovací mód Wide Field pro extra velké zorné pole a pro zobrazování s nízkými zvětšeními (až 2x). Dálší novinkou je revoluční stereoskopické zobrazování v živém obraze.

více...


REM + 3D měření

V loňském roce firma Tescan navázala spolupráci s firmou Alicona. Výsledkem této spolupráce je propojení mikroskopu Vega s programem MeX firmy Alicona, který umožňuje pořizování stereoskopických snímků zkoumaného povrchu.

Program MeX dálkově ovládá mikroskop Vegu, využívá 3D Beam technologii, analyzuje snímky, počítá a zobrazuje trojrozměrný model povrchu. Digitální model povrchu slouží pro měření profilu, drsnosti povrchu, plochy a objemu zvoleného tělesa.

snímek z REM

KdyCoKdeInfoKontakt
23.-26.6. 2008MICROSCIENCE 2008ExCel, London, UKinfolinkTescan, s.r.o.
1.-5.9. 2008EMC 2008 - 14th European Microscopy CongressAachen, GermanyinfolinkTescan, s.r.o.
23.-25.9 2008ANALYTICA ChinaShanghai, ChinainfolinkTescan, s.r.o.
7.-9.10. 2008SEMICON Europa 2008Stuttgart, GermanyinfolinkTescan, s.r.o.
2.-7.11. 2008APMC9 - 9th Asia-Pacific Microscopy ConferenceJeju Island, KoreainfolinkTescan, s.r.o.