Příslušenství
Vytvoření optimálních podmínek pro komplexní mikroanalýzu vzorků společně se získáním vysoce kvalitních snímků byla vždy hlavními kritéria při návrhu mikroskopů a detektorů TESCAN.
Prozařovací elektronová mikroskopie (TEM) je rozšířená v mnoha oblastech vědy a techniky, jako je například biologie nebo materiálové inženýrství. Společnost TESCAN vyvinula originální STEM detektor, který umožňuje detekci prošlých elektronů, přičemž zachovává všechny přednosti rastrovací (skenovací) elektronové mikroskopie (SEM).
Důmyslná konstrukce detekční technologie In-Beam pro autoemisní mikroskopy MIRA s YAG scintilačním detektorem umístěným uvnitř objektivové čočky.
Katodoluminiscenční detektor připojený na rastrovací elektronový mikroskop je schopen pořizovat digitální snímky ve vysokém rozlišení.
Detektor sekundárních elektronů (LVSTD) je unikátním a patentovaným řešením společnosti TESCAN. Modifikovaný Everhart-Thronley design společně s YAG scintilátorem poskytuje mnoho výhod.
TESCAN offers a SEM Control Panel as another option to the standard controllers like multipurpose trackball or EasySEM™ touch screen control interface. The Control Panel is designed to fully control the microscope without need to use another controlling device. Moreover, the user can work in the fullscreen image mode and operate all imaging functions simultaneously.
Nanorobotické manipulátory jsou volitelným příslušenstvím pro mikroskopy TESCAN. Integrace manipulátoru a mikroskopu SEM či FIB-SEM vytváří unikátní pracoviště se širokými aplikačními možnostmi.
