Připravované akce
28. Květen 2013 - 31. Květen 2013
The 57th International Conference on Electron, Ion, and Photon Beam Technology and Nanofabrication
Nashville, Tennessee, USA
10. Červen 2013 - 14. Červen 2013
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Bethlehem, Pensylvánie, USA
24. Červen 2013 - 25. Červen 2013
8th FIB workshop Dreilander
Unterpremstaetten, Rakousko
2. Červenec 2013 - 5. Červenec 2013
13ème colloque de la Société Française des Microscopies
Nantes, Francie
15. Červenec 2013 - 19. Červenec 2013
20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Suzhou, Čína
