Análise subcelular

Análises subcelular fornecem informações escondidas sob a superfície das células e tecidos. Normalmente esta área de investigação tem sido uma área domínada pela microscopia eletrônica de transmissão. No entanto, a tecnologia de MEV está se tornando mais popular neste campo, devido às novas técnicas emergentes disponíveis com soluções de microscopia eletrônica de varredura. A TESCAN oferece várias soluções para cientistas interessados nas investigações subcelulares de amostras biológicas.
 
  • Uma primeira abordagem envolve a incorporação de um detector STEM removível no interior da câmara do MEV, transformando assim qualquer MEV da TESCAN em um MET de baixo kV.
  • O detector STEM é compatível com grades padrão, rotineiramente utilizadas em microscópios de transmissão.
  • Uma outra abordagem utiliza cortes seriados dentro do MEV, seguido por imagens. O corte pode ser realizado através da implementação de um ultramicrótomo dentro da câmara ou então, diretamente pela tecnologia de feixe de íons focalizados (FIB).
  • Com os cortes seriados das amostras, seguido por segmentação e posterior reconstrução, os pesquisadores podem visualizar facilmente os dados relevantes em 3D.
Análise subcelular
Imagem STEM de cianobactérias

Nota de Aplicações Relacionadas

Low temperature scanning electron microscopy for Life Sciences
Low temperature scanning electron microscopy (Cryo-SEM) has become an established technique for capturing and observing biological samples close to their natural state. It is a method of choice, where the traditional sample preparation (e.g. critical point drying) causes unwanted changes in the sample structure. A Cryo-SEM workflow typically involves sample fixation using either flash-freezing in a liquid nitrogen slush or high-pressure freezing. The frozen samples are then transferred under vacuum to a cryo sputter coater, where they are coated with a conductive layer of metals or carbon. Finally, the samples are inserted into a SEM chamber equipped with a cryo-stage and observed in high vacuum environment.
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STEM detector in life science applications
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Performing scanning transmission electron microscopy (STEM) in a scanning electron microscope (SEM) is a popular technique for laboratories without transmission electron microscopy (TEM) capabilities. The new option for TESCAN STEM detector extends the imaging capabilities by simultaneous acquisition of multiple signals from transmitted and diffracted electrons including bright field, dark field and high angle dark field. The STEM analysis can be further supplemented with transmission EDX or EBSD microanalysis for receiving higher resolution, utilizing the available analytical techniques of the SEM.
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