Vidros

Os MEVs da TESCAN são de grande benefício para esta indústria. O vidro e seus derivados são uma parte importante da indústria automotiva, de construção, engenharia e da indústria de energia, entre outros.
Materiais à base de vidro são muitas vezes sensíveis ao serem expostos a feixes de elétrons de alta aceleração. No entanto, as amostras de vidro podem ser observadas adequadamente com o MEV-FEG MAIA3, que proporciona uma excelente resolução de imagem, mesmo com baixas energias de aceleração. Além disso, com o UNIVAC, o modo de pressão variável, permite que o operador observe aquelas amostras que não podem ser revestidas por metalizadores.
  • Produtos feitos de vidro plano podem ser vistos em nossa vida diária na forma de para-brisas, janelas de vidro, painéis solares, peças de mobiliário, eletrônicos, ou na forma de recipientes, tais como garrafas, vasos, etc.
  • As fibras de vidro são materiais constituídos por filamentos de vidro extremamente finos que estão ligados de uma forma compacta. Estas fibras têm boas propriedades térmicas e acústicas e, portanto, são comumente utilizados em isolamentos em residências.
  • Vidros avançados, tais como óxidos, silicatos, fosfatos e borossilicatos têm boa resistência ao choque térmico, uma variedade de propriedades ópticas especiais, bem como, boa resistência química. Tais materiais são largamente utilizados na indústria e a sua utilização em fibras ópticas é um exemplo das suas muitas aplicações.
Vidros
Inclusão em vidro

Nota de Aplicações Relacionadas

LE - BSE
Imaging of non-conductive samples, detecting nuances of compositional contrast or resolving tiny surface features in many fields of life science, material science or semiconductor engineering have become increasingly more important for scanning electron microscopy. For high energy beam the penetration depth of the electron beam interacting with the sample surface is high, resulting in a large interaction volume. Modern materials such as very thin composites in nano-meter scale cannot be observed at high energies because surface features are simply transparent for the electron beam. .
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FIB milling of non-conductive samples
Using FIB on non-conductive samples is a challenging task, because of charging. The charging can affect the beam positioning in an unexpected way. On some materials a periodical drift correction is sufficient, on others, some kind of charge compensation has to be used. The electron beam from the SEM or an electron flood gun are used as an effective charge compensation tool.
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