TESCAN MEV/FIB - MEV com espectrometria Raman integrada

Imagem correlativa de Raman e microscopia eletrônica de varredura totalmente integrada para análise detalhada de amostras é uma nova técnica de microscopia correlativa. Através da imagem Raman e microscopia eletrônica de varredura, as propriedades da ultraestrutura da superfície podem ser correlacionadas a informações de compostos moleculares.
A combinação de técnicas de imagem da espectrometria Raman e MEV, permite aos investigadores ampliar as capacidades analíticas do MEV. A imagem de Raman é um método espectroscópico bem conhecido, usado para obter a informação da amostra sobre a distribuição espacial da composição química e molecular. Esta solução também pode ser utilizada para gerar imagens em 2D, 3D e perfis de profundidade, para visualizar a distribuição dos compostos moleculares dentro de uma amostra. A espectrometria Raman é adequada não só para a identificação da fase, mas também pode ajudar a caracterizar o estado do material em estudo. Algumas das bandas Raman deslocam-se com a tensão aplicada ao material. A intensidade desta tensão pode ser quantificada e visualizada atarvés desta técnica. A espectrometria Raman também é útil para avaliar a cristalinidade de materiais sólidos com base na largura das bandas Raman. Outras informações também podem ser extraídas observando-se as intensidades da banda Raman. Isto corresponde com a quantidade do material ou com a espessura de uma camada específica do material. Este método, por exemplo, permite distinguir áreas formadas por grafeno mono, bi ou multicamadas.
  • Mudança simples e rápida entre imagem MEV e Raman
  • Transferência automatizada de amostras de uma posição de medição para outra
  • Interface de software integrada para controle de medição de fácil operação
  • Correlação dos resultados de medição e superposição de imagens
  • Sem comprometimento das capacidades de imagem MEV e Raman
  • A microscopia Raman fornece análise de compostos químicos e características do material (tensão, orientação, cristalinidade).
  • A espectroscopia Raman é um método complementar ao EDS.
TESCAN MEV/FIB - MEV com espectrometria Raman integrada
TESCAN SEM with integrated Raman spectrometry