TESCAN CLARA

TESCAN CLARA, Microscópio Eletrônico de Varredura de Ultra-Alta Resolução (MEV) leva a caracterização de materiais para o próximo nível

Com base no sucesso tecnológico da plataforma S8000, o CLARA é um MEV extremamente versátil projetado com base nas necessidades dos cientistas de materiais, fornecendo excelente desempenho em uma vasta gama de diferentes tipos de materiais.

Com uma resolução subnanométrica, o CLARA revelará os detalhes mais refinados sobre a estrutura do seu material. O Wide Field Optics ™ exclusiva da TESCAN permite que você localize rapidamente áreas de interesse em baixas ampliações iniciando em 2x, antes de ampliar para entender sua estrutura.

O TESCAN CLARA também oferece excelente resolução com baixas energias de feixe, tornando-o ideal para amostras sensíveis ao feixe e não condutoras. O excelente desempenho em baixa energia, também o torna ideal para medições na topografia da superfície. O TESCAN CLARA é a escolha ideal para centrais analíticas e laboratórios de pesquisa de materiais que valorizam não apenas alta resolução em baixa aceleração, mas também a capacidade de selecionar métodos de contraste de elétrons secundários e retroespalhados para explorar as informações que a amostra pode conter.

O hardware de última geração e ótica precisa fazem do CLARA um importante equipamento para qualquer instalação de central de imagens, laboratório de caracterização de materiais ou operação de inspeção industrial. A interface de usuário intuitiva e modular pode ser adaptada às necessidades de cada operador, ajudando a acelerar seus fluxos de trabalho individualmente. As rotinas de configuração e as condições ideais de geração de imagens, permitem que usuários inexperientes capturem facilmente imagens de alta qualidade e tragam funcionalidades de ponta dentro de seu alcance.
 

Principais benefícios

  • O projeto exclusivo de detector BSE In-Beam permite a filtragem de sinal com base na energia e no ângulo de saída
    Posições de projeto exclusivo dos detectores In-Beam BSE permitem a aquisição simultânea do sinal de BSE emitido da amostra em diferentes ângulos de "decolagem". O detector Axial BSE coleta elétrons retroespalhados de baixo ângulo, enquanto o Multidetector (BSE) coleta elétrons retrospalhados de ângulo médio. Esses dois sinais diferem significativamente. No detector Axial BSE, o contraste máximo de material é visível, enquanto suprime, às vezes, artefatos de brilho indesejados causados pela topografia da amostra. Em contraste, o Multidetector (BSE) coleta elétrons retroespalhados de ângulo médio, gerando imagens que exibem tanto contraste de material, quanto contrastes topográficos para realçar os contornos da superfície. O Multidetector inclui uma grade de filtragem de energia, de modo que o sinal SE e o sinal de BSE podem ser filtrados por energia para aumentar o contraste de BSE durante a observação dos materiais.
  • Excelente para geração de imagens de amostras sensíveis e não condutoras
    A combinação do design da coluna de elétrons com o sistema de detecção resulta em excelente desempenho de imagem em baixas energias até 50 eV, sem contar com aplicação de tensão na amostra, o que é ideal para imagens de todos os tipos de amostras não condutoras, sem artefatos ou danos na amostra.
  • Configuração rápida do feixe de elétrons - ótimas condições de imagem e análise garantidas
    As tecnologias de lente EquiPower ™ asseguram uma dissipação de energia térmica constante para excelente estabilidade em microanálise longas. Essas tecnologias, combinadas com a otimização de feixe em tempo real, permitem que o TESCAN CLARA obtenha imagens de alta resolução e dados analíticos (EDS / EBSD) em todas as correntes de feixe.
  • Navegação ao vivo intuitiva e precisa na amostra em baixa ampliação sem a necessidade de câmera de navegação óptica
    O exclusiva Wide Field Optics ™ inclui a configuração com lente objetiva dupla patenteada, que permite um campo de visão amplo não distorcido e uma variedade de modos de imagem. Alternar entre os modos é rápido e fácil e imagens de alta a baixa ampliação estão a apenas um clique de distância.
  • Caracterização de materiais em UHR livre de campo em baixas energias de feixe para máxima topografia
    A coluna BrightBeam ™ SEM oferece imagens de ultra-alta resolução livre de campo, o que garante a máxima universalidade na análise de amostras e permite imagens com ultra-alta resolução de amostras magnéticas.
  • Plataforma modular de software Intuitive Essence ™ projetada para fácil operação, independentemente do nível de habilidade do usuário
    A plataforma de software TESCAN Essence ™ torna o controle do microscópio mais fácil do que nunca. Um ambiente de software simplificado e orientado ao usuário maximiza a produtividade do MEV. Os operadores podem acessar facilmente todas as funcionalidades através de funções de busca simples ou arrastar e soltar a função em uma tela. Além disso, operadores de todos os níveis de habilidade podem facilmente alterar a configuração do MEV para uma condição anterior ou navegar para áreas anteriores. Um avançado modelo de anticolisão 3D ao vivo evita movimentos perigosos durante a movimentação da amostra.
TESCAN CLARA
TESCAN CLARA é baseado na plataforma S8000

Catálogo

TESCAN CLARA brochure
pdf – 7,5 MB

Nota de Aplicação

Advanced BSE detection capabilities of the TESCAN CLARA UHR-SEM
pdf – 1,7 MB

Materials Science



Life Sciences



Earth Sciences