TESCAN S8000G

O S8000G é o primeiro membro de uma nova família de microscópio TESCAN - a série S8000.
O TESCAN S8000G é um sistema FIB-SEM que tem tudo o que é necessário para atender às demandas da pesquisa de hoje, tanto na indústria como na academia; oferece uma excelente qualidade de imagem com excelente contraste, ideal para nanofabricação, bem como, a capacidade de executar tarefas complexas de nano engenharia com extrema precisão e facilidade incomparáveis.
 
Ele está equipado com a nova coluna eletrônica BrightBeam™ que atinge ultra-alta resolução (UHR), sem dificuldade para máxima versatilidade em análises, incluindo a análise de amostras magnéticas e o monitoramento de imagem de MEV ao vivo durante as operações com FIB.
A nova coluna está equipada com uma ótica eletrônica que melhora a resolução, especialmente nas baixas energias de feixe, ideais para imagens de amostras sensíveis e não-condutoras. Por outro lado, a sinergia da nova coluna FIB de Ga Orage™ equipada com óptica iónica de última geração e o sistema de injeção de gás OptiGIS™ recém-projetado, fazem do TESCAN S8000G um instrumento de classe mundial para preparação de amostras e nano fabricação.
 
O software modular e orientado para o fluxo de trabalho garante o máximo controle em todas as suas aplicações, unindo a tecnologia complexa a facilidade de utilização. O TESCAN S8000G é ideal para aplicações FIB-SEM de ponta e é a plataforma analítica ideal para todos aqueles que buscam uma melhor compreensão e avanços na ciência e tecnologia.

Principais Características

Nova tecnologia de coluna MEV BrightBeam™ para UHR sem precedentes

  • Coluna eletrônica BrightBeam™ com a exclusiva lente objetiva eletrostática/magnética combinada de 70 ° para máxima versatilidade.

  • Imagens de alta resoluçao livre de campo para máxima versatilidade em imagens e análises, incluindo a análise de amostras magnéticas e imagens durante operaçoes com FIB.

  • Novo sistema de detecçao, incluindo o detector axial In-Beam e o multidetector para seleçoes de ângulo e de energias, possibilita completo controle sobre a sensibilidade da superfície e a opçao de explorar com diferentes contrastes para aprimorar seus sentidos e aprofundar sua visao.

  • Eletrônica de nova geraçao com até 8 canais de sinal adquiridos simultaneamente.

  • Nova fonte de emissao de campo Schottky que agora permite correntes de até 400 nA e rápidas trocas de energia.

  • Tecnologia EquiPower™ para uma eficiente dissipaçao de energia térmica e excelente estabilidade da coluna eletrônica.

  • Tecnologia de desaceleraçao de feixe (BDT) para melhorar a resoluçao em baixas e ultrabaixas energias de elétrons com detecçao simultânea de sinais SE e BSE. (opcional)

Nova coluna FIB Ga Orage™ para as tarefas de nano-engenharia mais desafiadoras

  • Coluna FIB Ga Orage™ para feixe de íons de ultra-alta resoluçao e excelente desempenho em toda a gama de correntes de íons e alcance de energia total até 500 eV. Resoluçao <2,5 nm a 30 keV.
  • Qualidade de classe mundial na preparaçao de amostras com excelente desempenho a baixas energias para a preparaçao de amostras ultrafinas isentas de defeitos para MET.
  • Correntes FIB elevadas de até 100 nA com a estratégia SmartMill para remoçao rápida de áreas de grande volume reduzem pela metade o tempo para completar processos de corte e de preparaçao de lamelas.
  • Rápida nanotomografia FIB para informaçoes ultra-estruturais únicas de suas amostras.
  • Novo sistema de injeçao OptiGIS com início rápido e excelente estabilidade da taxa de remoçao/deposiçao.
  • Sao possíveis até 6 unidades OptiGIS em um único instrumento.
  • A combinaçao de imagens de MEV livre de campo com FIB em altas correntes, permite sequencias rápidas e ininterruptas de remoçao/imagem e avançados métodos para a preparaçao de amostras para MET, sonda atômica(APT) ou tomografia FIB-SEM.
TESCAN S8000G
TESCAN S8000G

Catálogo do produto

TESCAN S8000G brochure
pdf – 3,6 MB

Catálogo do produto

TEM specimen preparation for ultrastructural studies of surface passivated porous Au nanoparticles
pdf – 1,4 MB

Catálogo do produto

Large-area Cross-sectioning for Failure Analysis of Advanced Packaging Technologies
pdf – 1,5 MB

Catálogo do produto

Automated Milling of Micro-Compression Pillar Arrays
pdf – 549 kB

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