Öl & Gas

Rasterelektronenmikroskope sind optimale Instrumente, um mineralogische, paläontologische und strukturelle Eigenschaften geologischer Proben zu untersuchen. In ihrer Vielfältigkeit stellen eine große Bandbreite an Werkzeugen dar, die in der Charakterisierung von Träger- und Speichergestein eingesetzt werden.

Die Nutzung des TIMA Analyzers basiert auf automatisierter Mineralanalyse. Die TIMA liefert Informationen über die Mineralverteilung und über Poren im Speichergestein. Dieses Vorgehen wird meistens angewandt bei „konventionellem“ Speichergestein aus grobkörnigem Sediment. Die wichtigen authigenen Mineralien, welche die Poren abdichten, können ebenso identifiziert werden, wie die Porosität selbst. Bildanalysewerkzeuge werden eingesetzt, um Informationen über Porengröße, Geometrie und andere Merkmale zu liefern.

Quartzement überwächst detritische Quarzkörner, aufgenommen mit CL-Detekto

• Kathodolumineszenz (CL/KL) hilft, authigene Überwachsungen von Mineralien auf klastischen Körnern, zum Beispiel Quarzzement in Quarzsandstein, zu identifizieren, die Hohlräume blockieren können.
• Die Methode der automatisierten Mineralogie kann auch eingesetzt werden, „unkonventionelle“ Vorkommen zu charakterisieren, die durch feinkörnige Sedimente, wie Schieferstein, geformt wurden.
• Modale Mineralogie hilft ebenfalls, die Reaktion von Bruchstimulanzen hervorzusagen.
• Texturanalyse, kombiniert mit mineralogischer Zusammensetzung, wird zur Identifizierung verschiedener sedimentärer Fazies, sowohl von Bohrkernen, als auch von Bohrschnitten, eingesetzt.
• Die feinkörnigen, „unkonventionellen“ Lagerstätten werden mit Hilfe hochentwickelter Dual-Beam-Systeme, wie dem GAIA3 oder XEIA3 FIB-REM, bewertet. Bei diesen Systemen wird zuerst der fokussierte Ionenstrahl (FIB) dazu genutzt, eine Cross-Section ins Material einzubringen. Der Elektronenstrahl des REM wird für Abbildungen vom Schnitt in der Probenoberfläche verwendet. Die Abbildungen von hintereinander folgenden Schichtabtragungen können genutzt werden, um ein dreidimensionales Abbild zu erzeugen.
• Die Oberflächenbearbeitung jedes Cross-Sectioning-Durchgangs durch das FIB ist sehr fein und kann Details enthüllen, die im Nanometerbereich liegen. Die FIB-Technologie ist daher die optimale Wahl zur Herstellung von 3D-Rekonstruktionen und Bewertung der Durchlässigkeit.