Subzelluläre Analyse

Subzelluläre Analyse bietet Informationen, die unter der Oberfläche von Zellen und Geweben verborgen sind. Typischerweise ist dieses Forschungsgebiet eine Domäne der Transmissionselektronenmikroskopie. Jedoch wird die Rasterelektronenmikroskopie (REM) immer populärer in diesem Forschungsfeld, da mittlerweile auch REM Lösungen für die subzelluläre Analyse anbieten. Wissenschaftlern, die sich mit subzellulärer Forschung beschäftigen, bietet TESCAN mehrere Lösungen an.
  • Die erste Herangehensweise ist das Einbringen eines abnehmbaren STEM-Detektors in die Kammer des REM, wodurch das TESCAN REM in ein Low-kV-TEM verwandelt wird.
  • Der STEM-Detektor ist voll kompatibel zu den Standard TEM-Grids, die routinemäßig in TEM eingesetzt werden.
  • Eine andere Herangehensweise nutzt die serielle Schnittdarstellung im REM. Der Schneidvorgang kann entweder durch ein in die Kammer eingebrachtes Ultramikrotom oder direkt per Focused-Ion-Beam-Technologie (FIB) durchgeführt werden.
  • Durch serielle Schnittdarstellung einer Probe, gefolgt von subsequenter Segmentation und Rendering, können Forscher die relevanten Daten leicht dreidimensional visualisieren.
Subzelluläre Analyse
STEM-Abbildung einer Cyanobakterie

Applikationssbeispiele (in Englisch)

Low Temperature Scanning Electron Microscopy for Life Sciences
Low temperature scanning electron microscopy (Cryo-SEM) has become an established technique for capturing and observing biological samples close to their natural state. It is a method of choice, where the traditional sample preparation (e.g. critical point drying) causes unwanted changes in the sample structure. A Cryo-SEM workflow typically involves sample fixation using either flash-freezing in a liquid nitrogen slush or high-pressure freezing. The frozen samples are then transferred under vacuum to a cryo sputter coater, where they are coated with a conductive layer of metals or carbon. Finally, the samples are inserted into a SEM chamber equipped with a cryo-stage and observed in high vacuum environment.
pdf – 4,8 MB
High Resolution Analysis of Thin Foils using the STEM Detector with HADF
Performing scanning transmission electron microscopy (STEM) in a scanning electron microscope (SEM) is a popular technique for laboratories without transmission electron microscopy (TEM) capabilities. The new option for TESCAN STEM detector extends the imaging capabilities by simultaneous acquisition of multiple signals from transmitted and diffracted electrons including bright field, dark field and high angle dark field. The STEM analysis can be further supplemented with transmission EDX or EBSD microanalysis for receiving higher resolution, utilizing the available analytical techniques of the SEM.
pdf – 1,7 MB
STEM Detector in Life Science Applications
Scanning transmission electron microscopy (STEM) has become a highly effective, easy-to-use technique for imaging biological thin sections (lamellae) in SEM. Multiple sample observation, automated stage navigation, and ultra-high resolution imaging make this technique an attractive solution for high-contrast observation of TEM sections with excellent results, and minimal operator’s time.
pdf – 2,4 MB