Stahl- & Metalllegierungen

Hohe Auflösung und große Tiefenschärfe sind die wichtigsten Funktionen, die Rasterelektronenmikroskope (REM) zu hervorragenden Werkzeugen für die Untersuchung topographischer Eigenschaften von Stählen und Metalllegierungen machen.
 
Metalllegierungen bestehen aus zwei oder mehr Metallen. Solche Legierungen haben normalerweise verbesserte elektrische oder mechanische Eigenschaften gegenüber den eingesetzten Einzelmetallen. Durch die verbesserten Eigenschaften erweitert sich ihr Anwendungsbereich enorm. Beispiele für Metalllegierungen sind Stahl, Lotmetalle, Messing oder Bronze.

 
  • Stähle und Metalllegierungen sind wichtige Materialien für das Ingenieurwesen, die Bauwirtschaft, Automobil- und Luftfahrtindustrie.
  • Das Hauptelement von Stählen ist Eisen. Als Legierungselemente kommen Kohlenstoff, Mangan, Molybdän, Nickel und andere Metalle hinzu.
  • Stähle haben eine große Bandbreite an mechanischen Eigenschaften, die durch den Einsatz verschiedener Legierungen und Hitzebehandlungsverfahren angepasst werden können.
Unsere patentierte, aperturfreie Wide Field Optics™ erlaubt es Wissenschaftlern, einfach zwischen unterschiedlichen Ansichtsmodi hin und her zu schalten. Der Wide Field Modus erlaubt die verzerrungsfreie Abbildung besonders großer Objekte (z.B. beschädigte Werkzeuge) bei niedriger Vergrößerung. Der Depth Modus ist ideal für die Abbildung von Proben mit komplexer Topographie, wie gebrochenen Flächen. Feine Details wie Karbide, Korngrenzen und Dislokationen können im Resolution Modus berachet werden.
Stahl- & Metalllegierungen
Inconel – Bruchfläche

Applikationssbeispiele (in Englisch)

High Resolution Analysis of Thin Foils using the STEM Detector with HADF
Performing scanning transmission electron microscopy (STEM) in a scanning electron microscope (SEM) is a popular technique for laboratories without transmission electron microscopy (TEM) capabilities. The new option for TESCAN STEM detector extends the imaging capabilities by simultaneous acquisition of multiple signals from transmitted and diffracted electrons including bright field, dark field and high angle dark field. The STEM analysis can be further supplemented with transmission EDX or EBSD microanalysis for receiving higher resolution, utilizing the available analytical techniques of the SEM.
pdf – 1,7 MB
Electron Channelling Pattern Acquisition on Polycrystalline Materials
The electron channelling pattern (ECP) is an image of the pseudo-Kikuchi lines that can be acquired on a crystalline material with the scanning electron microscope (SEM). In the special scanning mode called Channelling the beam is rocking around one point and creates a selected area channelling pattern (SACP). The latest generation of TESCAN scanning electron microscopes have improved this method also for the evaluation of the individual grain orientation in some polycrystalline materials.
pdf – 1,1 MB