TESCAN AMBER

Die TESCAN AMBER ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-REM) und wurde speziell für die hohen Anforderungen der modernen Forschung in Industrie und Wissenschaft entwickelt. Sie liefert eine herausragende Bildqualität mit einem einzigartigen Kontrast.  Damit ist sie das ideale Instrument für die Nanocharakterisierung. Komplexe Aufgabenstellungen in der Nanotechnik sind mit extremer Präzision und unvergleichlicher Leichtigkeit durchzuführen.

Die TESCAN AMBER verfügt über unsere neue REM-Säule mit BrightBeamTM Technologie. Das vielseitige System verbindet feldfreie, ultrahochauflösende Bildgebung, einschließlich der Analyse magnetischer Proben mit der Live Überwachung Ihrer FIB-Anwendung.

Die Kombination der BrightBeamTM REM-Säule mit unserer neuartigen OrageTM FIB-Säule mit modernster Ionenoptik und Gasinjektionssystem machen die TESCAN AMBER zu einem Weltklasse-Instrument für die Probenvorbereitung und das Nanopatterning.

 

Die modulare und workfloworientierte Software gewährleistet maximale Kontrolle bei allen Anwendungen und eine hohe Benutzerfreundlichkeit. Die TESCAN AMBER ist ideal für High-End-FIB-REM-Anwendungen und als analytische Plattform die Wahl für alle, die täglich nach besserem Verständnis und neuesten Erkenntnissen in Wissenschaft und Technik streben.

Key features

Neue BrightBeam™ REM-Säulentechnologie für kompromisslose Ultrahochauflösung (UHR)

  • Neue BrightBeam™ REM-Säule mit patentierter 70° kombinierter elektrostatisch-magnetischer Objektivlinse für maximale Flexibilität.
  • Feldfreie, ultrahochauflösende Bildgebung für maximale Vielseitigkeit in der Bildgebung und Analyse, einschließlich der Analyse von magnetischen Proben und Live-REM-Bildgebung während des FIB-Betriebs.
  • Neues Detektionssystem mit In-Beam-Axialdetektor und Multidetektor zur winkel- und energieselektiven Signalerfassung bietet vollständige Kontrolle über die Oberflächenempfindlichkeit und die Möglichkeit, mit unterschiedlichem Kontrast zu untersuchen.
  • Neue Elektronikgeneration mit bis zu 8 Live-Signalkanälen gleichzeitig.
  • Neue Feldemission Schottky-Elektronensäule ermöglicht jetzt Strahlströme bis zu 400 nA und schnelle Energiewechsel.
  • EquiPower™ Linsentechnologie für effiziente, thermische Verlustleistung und hervorragende Elektronensäulenstabilität.
  • Beam Deceleration Technology (BDT) für eine weiter verbesserte Auflösung bei niedrigen und extrem niedrigen Elektronenstrahlenergien bei gleichzeitiger Erfassung von SE- und BSE-Signalen. (optional)

 

Neuartige Orage™ Gallium FIB-Säule für anspruchsvollste nanotechnische Anwendungen

  • Neuartige Orage™ Ga FIB-Säule für ultrahochauflösende Ionenstrahlen und hervorragende Leistung über den gesamten Bereich der Ionenstrahlströme und den gesamten Energiebereich bis hinunter zu 500 eV. Auflösung < 2,5 nm bei 30 keV.
  • Spitzenqualität in der Probenvorbereitung mit exzellenter Leistung bei niedrigen Energien zur Herstellung beschädigungsfreier ultradünner TEM-Proben.
  • Hohe FIB-Ströme bis zu 100 nA und SmartMill-Strategie für schnelles großvolumiges Fräsen und Schlitzen in der Hälfte der Zeit für die Fertigstellung Ihrer Querschnitts- und Lamellenaushubprozesse.
  • Schnelle FIB-Nanotomographie für einzigartige ultra-strukturelle Informationen von Proben.
  • Neues Einzelgas-Injektionssystem OptiGIS mit schneller Anlaufzeit und ausgezeichneter Stabilität der Depositions-/Ätzrate. Bis zu 6 OptiGIS-Geräte sind in einem Gerät möglich.
  • Die Kombination aus feldfreier REM-Bildgebung und hohen FIB-Strömen ermöglicht schnelle und ununterbrochene Fräs-/Bildsequenzen und modernste Verfahren zur TEM/Atomsonden-Probenvorbereitung oder FIB-REM Tomographie.

 
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