S8000G

Das TESCAN S8000G ist das erste Mitglied einer neuen Modellreihe von TESCAN Mikroskopen – der S8000 Serie. Das TESCAN S8000G ist ein FIB-REM-System, das alle Eigenschaften besitzt, um heutige Anforderungen bei der Forschung in Industrie und Hochschulen zu erfüllen. Es liefert hervorragende Abbildungsqualität mit ausgezeichnetem Kontrast für die Nanocharakterisierung. Zudem besitzt es das Leistungsvermögen, komplexe Aufgaben im Nanoengineering mit äußerster Präzision und unvergleichlicher Leichtigkeit zu erfüllen.

Das S8000G ist mit der neuen BrightBeam™ REM-Elektronensäule ausgestattet. Sie erreicht echte, kompromisslose, feldfreie Ultrahochauflösung (UHR) für maximale Vielseitigkeit in der Analyse, einschließlich der Analyse magnetischer Proben oder der zeitgleichen REM-Überwachung während des FIB-Betriebs.Die neue BrightBeam™-Säule ist mit einem elektronenoptischen Design ausgestattet, das die Auflösung gerade bei niedriger Strahlenergie verbessert. Damit ist die Säule bestens geeignet, strahlempfindliche oder nichtleitende Proben zu untersuchen. Das Zusammenspiel mit der neuentwickelten Orage™ Ga-FIB-Säule , ausgestattet mit hochmoderner Ionenoptik, und dem neuentworfenen OptiGIS™ Gas-Injection-System machen das TESCAN S8000G zu einem Instrument der Spitzenklasse für Probenpräparation und Nanopatterning.

Die modulare, Workflow-orientierte Software sichert maximale Kontrolle bei all Ihren Applikationen ohne Abstriche in der Komplexität der Technologie und in der Benutzerfreundlichkeit. Das TESCAN S8000G ist bestens für High-End FIB-REM-Applikationen geeignet. Es ist die analytische Plattform für Anwender, die täglich nach besserem Verständnis und einem Durchbruch in Wissenschaft und Technologie streben.

Hauptmerkmale

Neue BrightBeam™ REM-Säulentechnologie für kompromissloses UHR

  • Neue BrightBeam™ REM-Säule mit selbstentwickelter, kombinierter elektrostatisch-magnetischer 70° Objektivlinse für maximale Vielseitigkeit.
  • Feldfreie Abbildungen in Höchstauflösung für maximale Vielseitigkeit bei Abbildung und Analyse, inklusive der Analyse magnetischer Proben und zeitgleicher REM-Abbildung während des FIB-Betriebs.
  • Neues Detektionssystem mit In-Beam-Axialdetektor und Multidetektor für winkel- und energieselektive Signalgewinnung erlaubt die komplette Kontrolle über die Oberflächenempfindlichkeit, woraus sehr unterschiedliche Möglichkeiten zur Probenuntersuchung resultieren – optimieren Sie Ihren Erkenntnisgewinn.
  • Neue Elektronikgeneration mit bis zu acht Live-Signalkanälen gleichzeitig.
  • Die neue Schottky Feldemissionselektronensäule ermöglicht Strahlströme bis 400 nA und schnellen Wechsel der Strahlenergie.
  • EquiPower™ Linsentechnologie für effiziente thermische Leistungsabgabe und hervorragende Säulenstabilität.
  • Beam Deceleration Technology (BDT) für zusätzlich verbesserte Auflösung bei niedriger und extrem niedriger Auftreffenergie des Elektronenstrahls gleichzeitiger Detektion der SE- und BSE-Signale. (optional)

 

Neuartige Orage™ Ga-FIB-Säule für anspruchsvolle Nanoengineering-Aufgaben

  • Neuartige Orage™ Ga-FIB-Säule für höchstauflösenden Ionenstrahl und hervorragende Leistung im gesamten Bereich der Ionenstahl Stromstärke sowie voller Energiebereich, hinab bis 500 eV; Auflösung < 2.5 nm bei 30 keV.
  • Spitzenqualität bei der Probenpräparation mit ausgezeichneter Leistung bei niedrigen Energien zur zerstörungsfreien Präparation extrem dünner TEM-Proben.
  • Hohe FIB-Ströme bis zu 100 nA und SmartMill-Funktion für schnellen Abtrag großer Volumina und Schnitte in der Hälfte der Zeit, die sonst zur Fertigstellung einer Cross-Section oder eines Lamellen-Lift-Out-Prozesses benötigt wird.
  • Schnelle FIB-Nanotomographie für einzigartige ultrastrukturelle Informationen über Ihre Proben.
  • Neues Single-Gas-Injection-System OptiGIS mit schneller Aufheizzeit und hervorragender Stabilität der Depositions- und Ätzrate; Kombination von bis zu sechs OptiGIS-Einheiten in einem System möglich.
  • Die Kombination aus feldfreier Abbildung im REM und hohen FIB-Strömen erlaubt schnellen und ununterbrochenen Abtrag bei gleichzeitiger REM-Abbildung bei Nutzung fortschrittlicher Rezepte für TEM- / Atom-Probe-Probenpräparation oder FIB-REM-Tomographie.

 
S8000G
TESCAN S8000G

Produktbroschüre (in Englisch)

Hier TESCAN S8000G Produktbroschüre (in Englisch) downloaden.
pdf – 3,6 MB

Applikationsbeispiel

TEM Specimen Preparation for ultrastructural Studies of Surface passivated porous Au Nanoparticles
pdf – 1,4 MB

Applikationsbeispiel

Large-Area Cross-Sectioning for Failure Analysis of Advanced Packaging Technologies
pdf – 1,5 MB

Applikationsbeispiel

Automated Milling of Micro-Compression Pillar Arrays
pdf – 549 kB

TESCAN S8000G Mikroskop

Halbleiter & Mikroelektronik

Materialwissenschaft

Biowissenschaften