TESCAN REM/FIB-REM mit integriertem Raman Spektrometer

Das Zusammenwirken von Rasterelektronenmikroskopen (REM) für umfassende Probenanalyse und vollintegrierter, korrelativer Raman-Abbildung ermöglicht neue Techniken und Analysemöglichkeiten in der Mikroskopie. Ultrastrukturelle Oberflächeneigenschaften können mit molekularen Informationen verbunden werden.
Die Kombination aus Raman-Spektrometer und REM-Abbildungstechniken erlaubt es Forschern, die analytischen Fähigkeiten von REM zu erweitern. Raman-Imaging ist eine bekannte, spektroskopische Methode, die zur Gewinnung von Informationen über die räumliche Verteilung chemischer und molekularer Verteilung in Proben genutzt wird. Raman kann auch genutzt werden, um 2D- und 3D-Abbildungen sowie Tiefenprofile zur Visualisierung der Verteilung molekularer Stoffe innerhalb einer Probe zu generieren. Raman-Mikroskopie kann nicht nur zur Phasenidentifizierung eingesetzt werden, sondern ebenfalls den Zustand eines Materials während der Untersuchung charakterisieren. Einige der Ramanbanden verändern ihre Position (Raman-Shift) als Resultat von Belastung, der das Material ausgesetzt wird. Die Stärke der Belastung kann quantifiziert und visualisiert werden. Raman-Spektrometer sind nützlich zur Bewertung der Kristallinität fester Materialien anhand der Breite der Ramanbanden. Weitere Informationen können aus der Intensität der Ramanbanden gezogen werden. Die Intensität korrespondiert entweder mit der Materialmenge oder mit Dicke eines spezifisch geschichteten Materials. Diese Methode erlaubt zum Beispiel die Unterscheidung von Flächen, die aus einer, zwei oder mehreren Graphenschichten bestehen.
  • Schneller und bequemer Wechsel zwischen REM- und Raman-Messung
  • Automatischer Probentransfer von einer Messposition zur anderen
  • Integriertes Software-Interface für benutzerfreundliche Messkontrolle
  • Korrelation der Messergebnisse und Bildüberlagerungen
  • Kein Kompromiss bei den Einsatzmöglichkeiten von REM und Raman
  • Raman-Mikroskopie liefert die Analyse chemischer Verbindungen und von Werkstoffeigenschaften (Belastung, Orientierung, Kristallinität).
  • Raman-Spektroskopie und EDX sind sich ergänzende Methoden.
TESCAN REM/FIB-REM mit integriertem Raman Spektrometer
TESCAN REM mit integriertem Raman Spektrometer