TIMA-X TESCAN Integrated Mineral Analyser

Die TIMA-X ist ein automatisiertes REM-EDX Mineralogieanalysesystem für die schnelle quantitative Analyse von Proben wie Gestein, Erzen, Konzentraten, Bruchfeinmaterial, Laugenrückständen oder Erzeugnissen von Hüttenwerken.
 
Die TIMA-X kombiniert BSE- und EDX-Analyse zur Identifizierung von Mineralien. Sie kann zudem Bilder von Mineralien erzeugen, die zur Bestimmung mineralischer Konzentrationen, Elementverteilung und Textureigenschaften (der Minerale, wie Korngröße, Assoziation, Liberation und Aufschlussklasse) genutzt werden. Die TIMA-X kann auch nach Phasen suchen, die Platin, Gold, Silber, seltene Erden und andere Minerale enthalten.

Die TIMA-X nutzt bis zu vier EDAX Element Silicon Drift Detektoren (SDD) und eine neue Software, welche sowohl die Leistung, als auch die Verlässlichkeit signifikant erhöht. Die TIMA-X Detektoren wurden neu entwickelt und erhöhen die Empfindlichkeit beim Aufspüren von leichten Elementen. Die SDD-Detektoren bieten eine stabile Energieauflösung bei sehr hohen Zählraten. Die TIMA-X Detektoren sind sowohl mit der TIMA Bedienung, als auch mit den EDAX Quantitative-EDX-Systemen voll kompatibel. Die TIMA-X Software hat viele einzigartige Merkmale, darunter eine neue Generation von Identifizierungswerkzeugen für Minerale.
Darüber hinaus werden mit Hilfe des patentierten Pixel Analyse Algorithmus hervorragende Ergebnisse in der Leichtelementdetektion erzielt. Bei Anwendungen die einen hohen Durchsatz erfordern, kann die TIMA-X mit einem AutoLoader™, einem automatischen Lade- bzw. Bestückungssystem, ausgestattet werden.
 
Damit ist ein automatisierter 24-stündiger Betrieb (24/7) möglich, der die Produktivität drastisch steigert.

 

Hauptmerkmale Hardware

  • Basierend auf TESCAN MIRA Schottky-FE- oder VEGA W- bzw. LaB6-REM
  • Bis zu vier integrierte EDX-Detektoren für maximalen Durchsatz des Systems
  • Neueste Generation Peltier-gekühlter SDD-Detektoren
    • Neuer 30 mm2 SDD CMOS vakuumgekapselter SDD-CMOS-Chip
    • Robustes, nicht poröses Si3N4 Keramikfenster mit hoher Transmissivität
  • Kompatibel mit voll funktionsfähiger, Standard-basierter quantitativer EDX-Analyse

Einzigartige Merkmale

  • Vollständige Integration der Hardware von Detektoren und Elektronenmikroskop
  • AutoLoader™ für automatisierten 24-stündigen Betrieb (24/7) von großen Probenmengen
  • Aufsummieren von Spektren mit minimaler Zählrate bei geringen Nachweisgrenzen
  • Direkte quantitative EDX -Analyse von Röntgenspektren

Hauptmerkmale Software

  • Ausgereifte Offline-Software zur Mineral-Reklassifizierung, und Bildverarbeitung mit Report- und Interpretationsfunktionen
  • Eingebautes anwendungsorientiertes, konfigurierbares Managementsystem
  • Ein Katalog an Arbeitsmappen zur Speicherung von Bildgruppen, Diagrammen und Tabellen
  • Automatisches Backup von Report-Metadaten
  • Eingebaute interaktive, detaillierte, kontextspezifische Benutzerhilfe
 

Hauptmerkmale Support

  • ‚‚Kontinuierliche Verbesserung
  • ‚‚Kostenlose, regelmäßige Softwareupdates
  • ‚‚Alle Komponenten werden von TESCAN geliefert und gewartet
  • Keine Unterstützung durch Dritte notwendig
TIMA-X TESCAN Integrated Mineral Analyser
TIMA-X

Produktbroschüre (in Englisch)

Hier TIMA-X Produktbroschüre (in Englisch) downloaden.
TIMA-X is an automated mineralogy system for fast quantitative analysis of samples such as rocks, ores, concentrates, tailings, leach residues or smelter products. TIMA-X combines BSE and EDX analysis to identify minerals and create mineral images that are analysed to determine mineral concentrations, element distributions, and mineral texture properties such as grain-size, association, liberation and locking parameters. TIMA-X can also search for bright phases containing platinum group, gold, silver, rare earth and other minerals.
pdf – 2,8 MB