AMBER X TESCAN

Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala

INICIO Product Portfolio FIB-SEM TESCAN Soluciones para Ciencia de Materiales AMBER X TESCAN

Alto rendimiento, procesamiento FIB de área grande de hasta 1 mm
Preparación de micromuestra sin Ga
Ultra alta resolución, imágenes y análisis FEG-SEM sin campos.
Detección In-lens SE y BSE

Optimización de la resolución para tomografía FIB-SEM multimodal de alto rendimiento
Campo de visión superior para facilitar la navegación.
Interfaz gráfica de usuario modular Essence™ fácil de usar

: Seção transversal de 1 mm através de um eletrodo de bateria de íon de lítio

: Análise EBSD 3D de grande volume

: Preparação de amostra APT sem Ga

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