Imágenes de alta resolución con alto contraste de materiales de siguiente generación (por ejemplo estructuras catalizadoras, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)
Excelente plataforma adecuada para metrología SEM/STEM a escala subnanométrica
Rápida configuración del haz de electrones – las óptimas condiciones de imagen están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™
Sistema multidetector TriBE™ and TriSE™ para nanocaracterización de muestras
Software intuitivo de plataforma modular diseñada para operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
