TESCAN S8000G

El TESCAN S8000G es el primer miembro de una nueva familia de microscopios TESCAN: la serie S8000.
El TESCAN S8000G es un sistema FIB-SEM que tiene todo lo que se necesita para satisfacer las demandas actuales de investigación tanto en la industria como en  la academia ya que ofrece una excelente calidad y contraste de imagen que son ideales para la nanocaracterización de materiales. El TESCAN S8000G hace posible llevar a cabo tareas complejas de nanoingeniería con extrema precisión y facilidad incomparable.


El microscopio TESCAN S8000G está equipado con la nueva columna de MEB BrightBeam™ la cual logra una ultra alta resolución libre de campo que se traduce en máxima versatilidad en análisis, incluído el análisis de muestras magnéticas y permite la supervisión simultánea por medio de MEB de operaciones de FIB. El diseño de la óptica electrónica en esta nueva columna de MEB mejora la resolución especialmente a bajas energías de haz; lo cual es ideal para obtener imágenes de muestras que son sensibles al haz y no conductoras. Por otro lado, la combinación de la nueva columna FIB Orage™ con fuente de iones de Ga equipada con una óptica iónica de última generación y el nuevo sistema de inyección de gas OptiGIS™ hacen del microscopio TESCAN S8000G un instrumento de clase mundial para la preparación de muestras y la nanotecnología.

 

Características principales

  • BrightBeam™  - nueva columna MEB equipada con un lente objetivo electrostático-magnético y diseño de 70° que brinda máxima versatilidad.
  • Imágenes de ultra alta resolución libre de campo que resulta en una máxima versatilidad de escaneo imágenes y análisis, incluido el análisis de muestras magnéticas y escaneo simultaneo de imágenes MEB durante operaciones de FIB.
  • El nuevo sistema de detección incluye el detector Axial en haz y el Multidetector los cuales permiten recolectar electrones de acuerdo al ángulo de emisión y su energía. De esta manera, se tiene un control total sobre la sensibilidad al escanear la superficie de la muestra además de que es posible explorar con diferentes contrastes lo permite obtener mayor información de la muestras bajo estudio.
  • Orage™ - nueva columna FIB de fuente de iones de Ga de ultra alta resolución con excelente rendimiento en todo el rango de corrientes de haz de iones y energías de haz de iones de hasta 500 eV. Resolución  < 2.5 nm a 30 keV.
  • Calidad de clase mundial en preparación de muestras y con un excelente rendimiento a bajas energías de haz de iones ideales para la preparación de muestras para MET ultra finas y libre de daños.
TESCAN S8000G
TESCAN S8000G

Documentos para descargar

TESCAN S8000G brochure
pdf – 3,6 MB