MEB

La Microscopía Electrónica de Barrido (MEB) es una técnica no destructiva ampliamente conocida que utiliza una sonda de haz de electrones para analizar las superficies de muestras a nanoescalas. Los Microscopios Electrónicos de Barrido producen imágenes de alta magnificación con alta resolución, lo que los convierte en herramientas útiles y aptas  para una amplia gama de aplicaciones en numerosos campos de la ciencia y la industria.
La oferta de productos de TESCAN incluye sistemas MEB de emisión termoiónica de alto rendimiento equipados con cátodo de tungsteno o filamento de LaB6 (la serie VEGA3), siendo esta última, una opción que brinda gran luminosidad, resolución mejorada y larga vida útil del cátodo en comparación con fuentes de W.


TESCAN también ofrece sistemas MEB de emisión de campo (FE) equipados con emisor de alto brillo de Schottky para lograr imágenes de alta resolución y bajo ruido. MIRA3 es un FE-MEB de alta resolución mientras que MAIA3 es un FE-MEB para ultra-alta resolución (UHR). El nuevo miembro de la lista es el TESCAN S8000, un microscopio versátil que genera ultra alta resolución libre de campo y que está destinado para aplicaciones de avanzada.