TESCAN CLARA

TESCAN CLARA, Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) de ultra alta resolución, lleva la caracterización de materiales a nivel superior

Sobre la base del éxito tecnológico de la plataforma S8000, CLARA es un MEB extremadamente versátil diseñado para las necesidades en mente de los científicos de materiales, proporcionando un rendimiento sin condiciones dentro de una amplia gama de diferentes tipos de materiales.

Alcanzando una resolución subnanométrica, CLARA revelará los más finos detalles sobre la estructura del material. El exclusivo Wide Field Optics™ de TESCAN permite ubicar rápidamente áreas de interés con aumentos desde 2x antes del acercamiento para comprender su composición.

TESCAN CLARA también ofrece una excelente resolución a bajas energías de haz, siendo ideal para obtener imágenes de muestras sensibles y no conductoras del haz. El excelente rendimiento a baja energía también lo hace ideal para mediciones de topografía de la superficie. TESCAN CLARA es la opción ideal para avanzadas instalaciones analíticas y laboratorios de investigación de materiales que valoran no solo la baja resolución de kV, sino también la capacidad de seleccionar métodos de contraste de electrones secundarios y retrodispersados para explorar la información que la muestra puede contener.

El hardware de última generación con óptica de precisión hace de CLARA un activo para cualquier instalación avanzada de imágenes, laboratorio de caracterización de materiales u operación de inspección industrial. La interfaz de usuario modular e intuitiva puede adaptarse a las necesidades de cada operador, permitiendo acelerar los flujos de trabajo individuales. Las óptimas rutinas de configuración y condiciones de imagen permiten a usuarios inexpertos capturar fácilmente imágenes de alta calidad poniendo a su alcance funcionalidades de alta gama.
 

Beneficios clave

  • Detector In-Beam BSE con diseño exclusivo permite filtrar la señal en función de la energía y el ángulo de despegue
    Las posiciones de diseño exclusivo de los detectores In-Beam BSE permiten la adquisición simultánea de la señal de BSE emitida por la muestra en diferentes ángulos de "despegue". El detector axial de BSE colecta electrones retrodispersados de ángulo bajo, mientras que el Multidetector (BSE) colecta electrones retrodispersados de ángulo medio. Estas dos señales difieren significativamente. Con el detector Axial BSE, el contraste máximo del material es visible, mientras algunas veces se suprimen los artefactos de brillo no deseados causados por la topografía de la muestra. En contraste, el Multidetector (BSE) colecta electrones retrodispersados de ángulo medio, generando imágenes que exhiben contraste de material y contraste topográfico para resaltar contornos de superficie. El Multidetector incluye un filtro de energía, por lo que las energías de las señales SE y BSE pueden filtrarse para mejorar el contraste BSE durante la observación de materiales.
  • Excelente para la toma de imágenes de muestras sensibles y no conductoras del haz
    La combinación de diseño de columna de electrones con sistema de detección da como resultado un excelente rendimiento de imagen a bajas energías de haz de hasta 50 eV sin depender del compromiso de la muestra, lo cual es ideal para obtener imágenes de todo tipo de muestras no conductoras sin carga de artefactos o daños a la muestra.
  • Rápida configuración del haz: imagen óptima y condiciones analíticas garantizadas
    Las tecnologías de lentes EquiPower™ aseguran una constante disipación de potencial térmico para excelente estabilidad en el microanálisis que demanda mucho tiempo. Estas tecnologías, combinadas con la optimización del haz en tiempo real, permiten a TESCAN CLARA obtener imágenes de alta resolución con datos analíticos (EDS/EBSD) en todas las corrientes del haz.
  • Navegación SEM de la muestra en vivo intuitiva y precisa a bajo aumento sin la necesidad de cámaras de navegación óptica
    Exclusivo Wide Field Optics™ incluyendo la configuración patentada de lente de doble objetivo permitiendo un gran campo de visión sin distorsiones con una variedad de modos de imagen. El cambio entre modos de imágenes es rápido y fácil de mayor a menor aumento a solo un clic de distancia.
  • Caracterización de materiales libre de campos en UHR a bajas energías de haz para una topografía máxima
    La columna BrightBeam™ ofrece imágenes MEB de ultra alta resolución libre de campos, garantizando la máxima universalidad de muestras para su análisis permitiendo obtener imágenes de ultra alta resolución de muestras magnéticas.
  • • Software Essence™ de intuitiva plataforma modular diseñada para una operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad del usuario
    La plataforma de software Essence™ de TESCAN hace que el control del microscopio sea más fácil que nunca. El entorno SW simplificado y orientado al usuario maximiza la productividad del MEB. Los operadores pueden acceder fácilmente a todas las funcionalidades a través de funciones de búsqueda simples o arrastrando y soltando la función en pantalla. Además, operadores de todos los niveles de habilidad pueden cambiar fácilmente la configuración del MEB a una condición anterior o navegar áreas anteriores. Un avanzado modelo en vivo de colisión 3D evita movimientos peligrosos durante los movimientos de la muestra.
TESCAN CLARA
TESCAN CLARA is based on the S8000 platform

Folleto del Producto

TESCAN CLARA brochure
pdf – 7,5 MB

Nota de Aplicación

Advanced BSE detection capabilities of the TESCAN CLARA UHR-SEM
pdf – 1,7 MB