TESCAN AMBER X

Uma combinação única de FIB de plasma e MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo para caracterização de materiais em múltiplas escalas

INÍCIO Product Portfolio Soluções TESCAN de MEV-FIBs para a ciência dos materiais TESCAN AMBER X

Processamento FIB de grande área e alta produtividade até 1 mm
Preparação de microamostras sem implantação de Ga
Imagens e análises MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo
Detecção SE e BSE na lente (in lens)

Otimização da resolução para tomografia MEV-FIB multimodal de alto rendimento
Campo de visão superior para facilitar a navegação
Interface gráfica de usuário modular de fácil uso, Essence ™

: Seção transversal de 1 mm através de um eletrodo de bateria de íon de lítio

: Análise EBSD 3D de grande volume

: Preparação de amostra APT sem Ga

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