Caracterização total de todos os tipos de materiais em nanoescala
Ideal para caracterização de materiais em baixa aceleração de feixe para máxima topografia da superfície
Excelente imagem de amostras sensíveis ao feixe e não condutoras
Configuração totalmente automatizada do feixe de elétrons – condições ótimas de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing ™
Navegação intuitiva do MEV ao vivo na amostra com baixa ampliação 2 vezes, sem a necessidade de câmera de navegação óptica extra, graças ao design Wide Field Optics ™
Design exclusivo do detector múltiplo, permitindo detecção seletiva de BSE em ângulo e energia
Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários
