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TESCAN CLARA

MEV-FEG de Ultra-alta Resolução analítico livre de campo para caracterização de materiais em nanoescala

  • Caracterização total de todos os tipos de materiais em nanoescala
  • Ideal para caracterização de materiais em baixa aceleração de feixe para máxima topografia da superfície
  • Excelente imagem de amostras sensíveis ao feixe e não condutoras
  • Configuração totalmente automatizada do feixe de elétrons – condições ótimas de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing ™
  • Navegação intuitiva do MEV ao vivo na amostra com baixa ampliação 2 vezes, sem a necessidade de câmera de navegação óptica extra, graças ao design Wide Field Optics ™
  • Design exclusivo do detector múltiplo, permitindo detecção seletiva de BSE em ângulo e energia
  • Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários
  • Product brochure

    TESCAN CLARA

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  • Download our app notes

    Advanced BSE detection capabilities of the TESCAN CLARA UHR-SEM

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  • SEM and EBSD analysis of the grain structure after ECAP process of the aluminum material

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  • Analysis of ceramic nano-particles

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