O microscópio eletrônico de varredura (SEM) de 4ª geração VEGA de TESCAN com fonte de elétrons de filamento de tungstênio combina imagens SEM e análise de composição elementar ao vivo em uma única janela do software Essence™ da TESCAN. Essa combinação simplifica significativamente a aquisição de dados morfológicos e elementares da amostra, tornando o VEGA SEM uma solução analítica eficiente para inspeção de rotina dos materiais nos laboratórios de controle de qualidade, análise de falhas e pesquisa.
- Plataforma analítica com o TESCAN Essence™ EDS totalmente integrado, que combina com eficiência a imagem SEM com a análise da composição elementar em uma única janela do software Essence™.
- Ótimas condições de imagem e analíticas disponíveis imediatamente, graças ao design óptico sem abertura da TESCAN, alimentado pelo in flight Beam Tracing™.
- Navegação SEM sem esforço e precisa na amostra em ampliações tão baixas quanto 2 × sem a necessidade de uma câmera de navegação óptica adicional devido ao design exclusivo Wide Field Optics™.
- Modo SingleVac™ como um recurso padrão para observação de amostras sensíveis a carga e feixe.
- Software Essence™ intuitivo e modular, projetado para operação sem esforço, independentemente do nível de experiência do usuário.
- A segurança máxima dos detectores montados na câmara quando o palco e a amostra estão em movimento é garantida com o modelo Essence™ 3D Collision.
- Detectores opcionais SE e BSE na coluna estão disponíveis, incluindo a tecnologia de desaceleração de feixe para melhorar o desempenho da imagem em tensões de aceleração mais baixas.
- Plataforma analítica modular que pode ser opcionalmente equipada com a mais ampla seleção de detectores totalmente integrados (por exemplo, CL, espectrômetro BSE ou RAMAN refrigerado a água).
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- Essence EDS – mapeamento na janela SEM ao vivo
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- Grãos em espuma cerâmica
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- Seção transversal polida mecanicamente da esfera de solda
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- Observação dos materiais de carregamento no modo SingleVac – ceracmico (detector 4Q BSE – modo colorido)
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- Porosidade de uma cerâmica
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- Partículas de ZnP no substrato Al