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TESCAN REM

TESCAN Rasterelektronenmikroskope

Die Rasterelektronenmikroskopie ist eine weit verbreitete zerstörungsfreie Untersuchungsmethode, bei der ein Elektronenstrahl zur Analyse der Probenoberfläche bis in den Nanobereich eingesetzt wird. Die Rasterelektronenmikroskope erzeugen Bilder mit hoher Vergrößerung und hoher Auflösung, was sie zu geeigneten Werkzeugen für eine Vielzahl von Anwendungen in zahlreichen Bereichen der Wissenschaft und Industrie macht.