Keramiken und Hartbeschichtungen

Können technische Probleme nicht mit konventionellen Materialien gelöst werden, sind Komponenten aus keramischen Materialien in einigen Fällen die einzige Lösung. Unbeschichtete und nichtleitende Proben können mit TESCAN REM im "Variable Pressure Modus" beobachtet werden, ohne die Proben zu beschädigen.
Technische Keramiken können in folgende Gruppen unterteilt werden: Oxidkeramik (in erster Linie Metalloxide wie zum Beispiel Aluminiumoxid, Zirconiumoxid oder Berylliumoxid), Nichtoxidkeramik (Materialien, die auf Carbid, Nitrid, Borid und Silikaten basieren) und Verbundkeramiken (wozu partikel- und faserverstärkte Keramiken, aber auch Kombinationen aus Oxid- und Nichtoxidkeramiken gehören).
  • Hochleistungskeramiken gehören zu technischen Keramiken, Ingenieurkeramiken oder Industriekeramiken.
  • Keramikmaterial ist sehr abriebfest und besitzt sehr interessante mechanische, elektrische oder thermale Eigenschaften.
  • Hochleistungskeramiken haben ein breitgefächertes Anwendungsgebiet in der Automobil-, Raumfahrt-, Medizin-, Elektrik- und Elektronikindustrie.
  • TESCAN REM mit Feldemissionskathode (FE-REM) sind bestens dazu geeignet, Hochleistungskeramiken bei hoher Auflösung zu untersuchen.
  • In REM mit Beam Deceleration Technology (BDT) können hochauflösende Abbildungen bei extrem geringer Elektronen-Auftreffenergie erzeugt werden, wodurch Forscher ausgezeichnete Abbildungen der Mikrostruktur von Keramiken und Hartbeschichtungen erzeugen können.
Keramiken und Hartbeschichtungen
Al2O3– Detail (BSE-Detektor)

Applikationssbeispiele (in Englisch)

Microstructure of Silicon - Enriched Nickel Aluminide Diffusion Coating
A mixture of commercially available pure silicon and aluminium powders in a liquid amyl acetate based organic binder was painted onto the surface of Inconel 713LC nickel based superalloy by means of the spray gun. Two stage heat treatment process in an argon atmosphere was designed to produce a silicon enriched nickel aluminide diffusion coating, which should be promising for the most demanding high temperature applications in aircraft, automotive and power generation industries. The microstructure of the coating was analyzed using the scanning electron microscope (SEM) TESCAN LYRA3 equipped with focused ion beam (FIB), Energy Dispersive X-ray spectrometer (EDX) and 3D Tomography software module.
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LE - BSE
Imaging of non-conductive samples, detecting nuances of compositional contrast or resolving tiny surface features in many fields of life science, material science or semiconductor engineering have become increasingly more important for scanning electron microscopy. For high energy beam the penetration depth of the electron beam interacting with the sample surface is high, resulting in a large interaction volume. Modern materials such as very thin composites in nano-meter scale cannot be observed at high energies because surface features are simply transparent for the electron beam. .
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