Materialien auf Glas-Basis

TESCAN REM sind von großem Nutzen für die Glasindustrie. Glas und die daraus abgeleiteten Produkte sind wichtiger Bestandteil der Automobilindustrie, Energieindustrie, des Bauwesens, Maschinenbaus und anderer Zweige.
Werden auf Glas basierende Materialien Elektronenstrahlen mit hoher Spannung ausgesetzt, reagieren sie oft empfindlich. Für Proben aus Glas bietet das TESCAN MAIA UHR FE-REM eine sehr gute Lösung, da Abbildungen mit hervorragender Auflösung bei niedriger Beschleunigungsspannung erzeugt werden können. Zusätzlich bietet die UniVac-Variante mit variablem Kammerdruck die Möglichkeit, Proben zu untersuchen, die nicht mit Metallen beschichtet werden können oder dürfen. Im täglichen Leben nutzen wir Glas in Form von Windschutzscheiben, Glasfenstern, Sonnenkollektoren, Möbelteilen und mehr.
 
  • Glasfaser ist ein Material, das aus extrem feinen Glasfilamenten besteht, die kompakt miteinander verbunden sind. Solche Fasern haben gute thermische und akustische Eigenschaften. Daher werden sie oft und gerne bei der Hausisolierung eingesetzt.
  • Hochleistungsglas wie Oxide, Silikate, Phosphate und Borosilikate haben eine hohe Beständigkeit gegenüber Temperaturschocks, eine Vielzahl spezieller optischer Eigenschaften und eine gute Chemikalienbeständigkeit. Diese Materialien sind weitverbreitet in der Industrie, und ihr Einsatz in optischen Fasern ist nur eine der vielen Anwendungsmöglichkeiten.
Materialien auf Glas-Basis
Einschluss in Glas

Applikationssbeispiele (in Englisch)

Quality Control of Metal Surfaces using 3D Reconstruction (Alicona MeX 3D Metrology)
Quality control and testing is an important and inseparable part of the manufacturing process of smooth reflective surfaces. The surfaces are examined in search for impurities, cracks, pores, dents and signs of corrosion. A localised form of corrosion, called pitting, leads to the formation of small cavities which can grow deep below the surface. In this application note we use the scanning electron microscope VEGA3 equipped with the Alicona MeX 3D Metrology software for surface inspection and evaluation of pitting in a reflective surface sample of the Atacama Large Millimeter Array (ALMA) telescope.
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LE - BSE
Imaging of non-conductive samples, detecting nuances of compositional contrast or resolving tiny surface features in many fields of life science, material science or semiconductor engineering have become increasingly more important for scanning electron microscopy. For high energy beam the penetration depth of the electron beam interacting with the sample surface is high, resulting in a large interaction volume. Modern materials such as very thin composites in nano-meter scale cannot be observed at high energies because surface features are simply transparent for the electron beam. .
pdf – 3,3 MB
FIB Milling of Non-Conductive Samples
Using FIB on non-conductive samples is a challenging task, because of charging. The charging can affect the beam positioning in an unexpected way. On some materials a periodical drift correction is sufficient, on others, some kind of charge compensation has to be used. The electron beam from the SEM or an electron flood gun are used as an effective charge compensation tool.
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