AMBER TESCAN

FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales

INICIO Product Portfolio FIB-SEM TESCAN Soluciones para Ciencia de Materiales AMBER TESCAN

Preparación de micro muestras con alta precisión
Imagen SEM libre de campos con ultra alta resolución con nano análisis
Campo de visión extendido con fácil navegación.
Automatización multisitio del proceso.

Tomografía FIB-SEM multimodal.
Interfaz de usuario con software modular de fácil uso.
Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones.

: Matriz de pilares de microcompresión

: Sección transversal de defecto a través del recubrimiento multicapa

: Modo de campo amplio para imágenes de muestra grande con navegación

Póngase en contacto

¿Desea comentar sobre AMBAR TESCAN? ¡Póngase en contacto con nuestro equipo de productos directamente!

Request for:

Name and surname:

E-mail

Phone number:

Country:

Your message:

I have read and acknowledge the Privacy Policy