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FIB-SEM TESCAN Soluciones para Ciencia de Materiales

FIB-SEM TESCAN Soluciones para Ciencia de Materiales

La Microscopía Electrónica de Barrido se ha convertido en una herramienta esencial para la ciencia e ingeniería de materiales. TESCAN ofrece un portafolio amplio de sistemas llave en mano, diseñados para ayudar a los científicos e investigadores de Ciencia de Materiales en alcanzar avances y logro de sus objetivos. La amplia gama de instrumentos dedicados e innovadores de TESCAN es parte de nuestro firme compromiso de impulsar la ciencia de materiales.

FIB-SEM TESCAN Soluciones para Ciencia de Materiales

AMBER TESCAN

FIB-SEM nano analítico versátil para amplias capacidades de investigación de materiales

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AMBER X TESCAN

Una combinación única de Plasma FIB y FE-SEM UHR libre de campo para la caracterización de materiales a multiescala

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