Caracterización sin compromiso de todo tipo de materiales a nanoescala
Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz con máxima topografía de la superficie.
Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras
Configuración del haz de electrones totalmente automatizada: las condiciones de imagen óptima están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™
Navegación intuitiva en vivo de la muestra SEM con un aumento de hasta 2× sin necesidad de una cámara óptica de navegación adicional gracias al diseño Wide Field Optics™
Diseño exclusivo de Multidetector In-Beam que permite la detección de BSE de ángulo y energía selectivos
Software intuitivo de plataforma modular diseñado para operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
Nanotubos de Ti
Nanoporo de Oro en Si
Espaciado interlaminar en perlita de hierro fundido.
